{
    "id": 229,
    "date": "2024-02-27T12:22:43",
    "date_gmt": "2024-02-27T11:22:43",
    "guid": {
        "rendered": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/?page_id=229"
    },
    "modified": "2024-02-27T17:28:22",
    "modified_gmt": "2024-02-27T16:28:22",
    "slug": "laboratorium-mikroskopii-sil-atomowych-afm",
    "status": "publish",
    "type": "page",
    "link": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/?page_id=229",
    "title": {
        "rendered": "Laboratorium Mikroskopii Si\u0142 Atomowych (AFM)"
    },
    "content": {
        "rendered": "<p>Pracownicy laboratorium AFM:<\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/?page_id=5#Rafal-Bozek\">mgr Rafa\u0142 Bo\u017cek<\/a><\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/?page_id=5#Jan_Pawlowski\">dr Jan Paw\u0142owski<\/a><\/p>\n<p>Mikroskopia si\u0142 atomowych (Atomic Force Microscopy) jest technik\u0105 badania powierzchni cia\u0142 sta\u0142ych z rozdzielczo\u015bci\u0105 si\u0119gaj\u0105c\u0105 0.1\u00a0nm w p\u0142aszczy\u017anie pr\u00f3bki (<em>xy<\/em>) i lepsz\u0105 ni\u017c 0.01nm w kierunku osi <em>z<\/em>.<\/p>\n<p>Idea pomiar\u00f3w jest oparta na oddzia\u0142ywaniach mi\u0119dzyatomowych i mi\u0119dzycz\u0105steczkowych pomi\u0119dzy pr\u00f3bk\u0105 a sond\u0105 pomiarow\u0105 \u2013 d\u017awigni\u0105 z ostrzem o promieniu krzywizny ~10\u00a0nm. Osi\u0105gane parametry zale\u017c\u0105 od konstrukcji mikroskopu, a w szczeg\u00f3lno\u015bci \u015brodowiska, w kt\u00f3rym s\u0105 wykonywane pomiary \u2013 powietrze (inne gazy), ciecz lub ultrawysoka pr\u00f3\u017cnia. Podstaw\u0105 s\u0105 pomiary topografii, czyli kszta\u0142tu powierzchni. Zastosowanie zmodyfikowanych sond oraz zaawansowanych metod analizy wynik\u00f3w umo\u017cliwia badanie wielu innych w\u0142a\u015bciwo\u015bci pr\u00f3bek, w tym elektrycznych, magnetycznych, piezoelektrycznych i mechanicznych.<\/p>\n<p>W Laboratoriach Nanotechnologii i Struktur P\u00f3\u0142przewodnikowych dysponujemy obecnie trzema mikroskopami AFM:<\/p>\n<ol>\n<li><a href=\"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/?page_id=233\">Digital Instruments, model: MultiMode AFM-2 z kontrolerem NanoScope IIIA i przystawk\u0105 Extender Electronics Module.<\/a><\/li>\n<li><a href=\"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/?page_id=237\">Scienta Omicron, model: VT XA zainstalowany w uk\u0142adzie pr\u00f3\u017cniowym z pojedyncz\u0105 komor\u0105.<\/a><\/li>\n<li><a href=\"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/?page_id=241\">Bruker, model: Dimension Icon z kontrolerem NanoScope VI.<\/a><\/li>\n<\/ol>",
        "protected": false
    },
    "excerpt": {
        "rendered": "<p>Pracownicy laboratorium AFM: mgr Rafa\u0142 Bo\u017cek dr Jan Paw\u0142owski Mikroskopia si\u0142 atomowych (Atomic Force Microscopy) jest technik\u0105 badania powierzchni cia\u0142 sta\u0142ych z rozdzielczo\u015bci\u0105 si\u0119gaj\u0105c\u0105 0.1\u00a0nm w p\u0142aszczy\u017anie pr\u00f3bki (xy) i lepsz\u0105 ni\u017c 0.01nm w kierunku osi z. Idea pomiar\u00f3w jest oparta na oddzia\u0142ywaniach mi\u0119dzyatomowych i mi\u0119dzycz\u0105steczkowych pomi\u0119dzy pr\u00f3bk\u0105 a sond\u0105 pomiarow\u0105 \u2013 d\u017awigni\u0105 z ostrzem [&hellip;]<\/p>",
        "protected": false
    },
    "author": 4,
    "featured_media": 0,
    "parent": 8,
    "menu_order": 0,
    "comment_status": "closed",
    "ping_status": "closed",
    "template": "",
    "meta": {
        "footnotes": ""
    },
    "class_list": [
        "post-229",
        "page",
        "type-page",
        "status-publish",
        "hentry"
    ],
    "_links": {
        "self": [
            {
                "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/229",
                "targetHints": {
                    "allow": [
                        "GET"
                    ]
                }
            }
        ],
        "collection": [
            {
                "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages"
            }
        ],
        "about": [
            {
                "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/types\/page"
            }
        ],
        "author": [
            {
                "embeddable": true,
                "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/users\/4"
            }
        ],
        "replies": [
            {
                "embeddable": true,
                "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fcomments&post=229"
            }
        ],
        "version-history": [
            {
                "count": 5,
                "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/229\/revisions"
            }
        ],
        "predecessor-version": [
            {
                "id": 285,
                "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/229\/revisions\/285"
            }
        ],
        "up": [
            {
                "embeddable": true,
                "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/8"
            }
        ],
        "wp:attachment": [
            {
                "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fmedia&parent=229"
            }
        ],
        "curies": [
            {
                "name": "wp",
                "href": "https:\/\/api.w.org\/{rel}",
                "templated": true
            }
        ]
    }
}