{ "id": 237, "date": "2024-02-27T12:35:49", "date_gmt": "2024-02-27T11:35:49", "guid": { "rendered": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/?page_id=237" }, "modified": "2024-02-28T12:45:58", "modified_gmt": "2024-02-28T11:45:58", "slug": "scienta-omicron-vt-xa", "status": "publish", "type": "page", "link": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/?page_id=237", "title": { "rendered": "Scienta Omicron VT XA" }, "content": { "rendered": "

Pracownicy odpowiedzialni:<\/p>\n

mgr Rafa\u0142 Bo\u017cek<\/a><\/p>\n

dr Jan Paw\u0142owski<\/a><\/p>\n

Mikroskop Scienta Omicron umo\u017cliwia wysokorozdzielcze obrazowanie powierzchni badanych materia\u0142\u00f3w w atmosferze ultra-wysokiej pr\u00f3\u017cni (osi\u0105galne ci\u015bnienie \u22652\u00b710-10<\/sup> mbar \u2013 uk\u0142ad pr\u00f3\u017cniowy z pojedyncz\u0105 komor\u0105).<\/p>\n\n\n

\n
\n
\"\"<\/figure>\n<\/div>\n\n\n\n
<\/div>\n<\/div>\n\n\n

Dost\u0119pne tryby pracy:<\/p>\n

    \n
  • STM\/STS mikroskopia tunelowa \u2013 topografia i spektroskopia,<\/li>\n
  • AFM Contact (topografia, si\u0142y tarcia LFM, przewodnictwo),<\/li>\n
  • AFM Noncontact,<\/li>\n
  • QPlus AFM\/STM,<\/li>\n
  • EFM \u2013 mikroskopia si\u0142 elektrycznych,<\/li>\n
  • MFM \u2013 mikroskopia si\u0142 magnetycznych,<\/li>\n
  • KPFM AM\/FM (single pass) mikroskopia z sond\u0105 Kelvina.<\/li>\n<\/ul>\n

    Mikroskop jest zintegrowany z kriostatem przep\u0142ywowym umo\u017cliwiaj\u0105cym ch\u0142odzenie stolika pr\u00f3bki (sonda nie jest ch\u0142odzona). Minimalna temperatura stolika ~50K (LHe \u2013 w laboratorium nie ma odzysku helowego<\/u>) i ~130K (LN2<\/sub>). Maksymalna temperatura stolika 423K (150\u00b0C).<\/p>\n

    Maksymalny rozmiar pr\u00f3bek (11\u00d711\u00d78 mm).<\/p>\n

    Zakres pracy skanera piezoelektrycznego wynosi x<\/em>, y<\/em>: 10 \u00b5m oraz z<\/em>: 1 \u00b5m (\u00b10.5 \u00b5m)<\/p>\n

    Uchwyty pr\u00f3bek<\/p>\n\n\n

    \n
    \n

    Standardowy \u2013 stalowy lub tantalowy<\/p>\n<\/div>\n\n\n\n

    \n
    \"\"<\/figure>\n<\/div>\n<\/div>\n\n\n\n
    \n
    \n

    Uchwyt do bezpo\u015bredniego grzania pr\u00f3bki za pomoc\u0105 pr\u0105du \u2013 rekonstrukcja powierzchni krzemu (molibden)<\/p>\n<\/div>\n\n\n\n

    \n
    \"\"<\/figure>\n<\/div>\n<\/div>\n\n\n\n
    \n
    \n

    Uchwyt do badania prze\u0142om\u00f3w<\/p>\n<\/div>\n\n\n\n

    \n
    \"\"<\/figure>\n<\/div>\n<\/div>\n\n\n\n
    \n
    \n

    Uchwyt z czterema kontaktami elektrycznymi<\/p>\n<\/div>\n\n\n\n

    \n
    \"\"<\/figure>\n<\/div>\n<\/div>", "protected": false }, "excerpt": { "rendered": "

    Pracownicy odpowiedzialni: mgr Rafa\u0142 Bo\u017cek dr Jan Paw\u0142owski Mikroskop Scienta Omicron umo\u017cliwia wysokorozdzielcze obrazowanie powierzchni badanych materia\u0142\u00f3w w atmosferze ultra-wysokiej pr\u00f3\u017cni (osi\u0105galne ci\u015bnienie \u22652\u00b710-10 mbar \u2013 uk\u0142ad pr\u00f3\u017cniowy z pojedyncz\u0105 komor\u0105). Dost\u0119pne tryby pracy: STM\/STS mikroskopia tunelowa \u2013 topografia i spektroskopia, AFM Contact (topografia, si\u0142y tarcia LFM, przewodnictwo), AFM Noncontact, QPlus AFM\/STM, EFM \u2013 mikroskopia […]<\/p>", "protected": false }, "author": 4, "featured_media": 0, "parent": 229, "menu_order": 0, "comment_status": "closed", "ping_status": "closed", "template": "", "meta": { "footnotes": "" }, "class_list": [ "post-237", "page", "type-page", "status-publish", "hentry" ], "_links": { "self": [ { "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/237", "targetHints": { "allow": [ "GET" ] } } ], "collection": [ { "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages" } ], "about": [ { "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/types\/page" } ], "author": [ { "embeddable": true, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/users\/4" } ], "replies": [ { "embeddable": true, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fcomments&post=237" } ], "version-history": [ { "count": 8, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/237\/revisions" } ], "predecessor-version": [ { "id": 330, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/237\/revisions\/330" } ], "up": [ { "embeddable": true, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/229" } ], "wp:attachment": [ { "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fmedia&parent=237" } ], "curies": [ { "name": "wp", "href": "https:\/\/api.w.org\/{rel}", "templated": true } ] } }