{ "id": 241, "date": "2024-02-27T12:40:00", "date_gmt": "2024-02-27T11:40:00", "guid": { "rendered": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/?page_id=241" }, "modified": "2024-02-28T12:43:43", "modified_gmt": "2024-02-28T11:43:43", "slug": "bruker-dimension-icon", "status": "publish", "type": "page", "link": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/?page_id=241", "title": { "rendered": "Bruker Dimension Icon" }, "content": { "rendered": "

Pracownicy odpowiedzialni:<\/p>\n

mgr Rafa\u0142 Bo\u017cek<\/a><\/p>\n

dr Jan Paw\u0142owski<\/a><\/p>\n

Mikroskop Bruker Dimension Icon jest to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop AFM z kontrolerem najnowszej generacji Nanoscope VI.<\/p>\n\n\n

\n
\n
\"\"<\/figure>\n<\/div>\n\n\n\n
<\/div>\n<\/div>\n\n\n

Dost\u0119pne tryby pracy:<\/p>\n

    \n
  • topografia w trybie kontaktowym i trybie przerywanego kontaktu (\u201etapping mode\u201d)<\/li>\n
  • topografiaw trybie przerywanego kontaktu z kontrol\u0105 si\u0142y oddzia\u0142ywania sonda-pr\u00f3bka (PeakForce TappingTM<\/sup><\/strong>) z systemem wspomagaj\u0105cym i pozwalaj\u0105cym na automatyczn\u0105 optymalizacj\u0119 parametr\u00f3w skanowania w czasie rzeczywistym ScanAsystTM<\/sup><\/strong>.<\/li>\n
  • PeakForce Quantitative NanoMechanics (PeakForce QNMTM<\/sup>)<\/strong> – tryb przerywanego kontaktu z kontrol\u0105 si\u0142y oddzia\u0142ywania sonda-pr\u00f3bka pozwalaj\u0105cy na ilo\u015bciowe okre\u015blenie w\u0142a\u015bciwo\u015bci nanomechanicznych badanych materia\u0142\u00f3w. W tym trybie pracy, r\u00f3wnolegle obok obrazu topografii, mo\u017cliwe jest uzyskanie map w\u0142a\u015bciwo\u015bci nanomechanicznych pr\u00f3bki, takich jak: si\u0142a adhezji, g\u0142\u0119boko\u015b\u0107 indentacji, deformacja, modu\u0142 elastyczno\u015bci, energia dyssypacji.<\/li>\n
  • Mikroskopia si\u0142 magnetycznych (MFM).<\/li>\n
  • Mikroskopia si\u0142 elektrycznych (EFM).<\/li>\n
  • PeakForce TUNA<\/strong>TM<\/sup><\/strong> – tryb przerywanego kontaktu pozwalaj\u0105cy na tworzenie lokalnych map przewodnictwa pr\u00f3bki w zakresie od 100 fA do 1 \u00b5A.<\/li>\n
  • Mikroskopia potencja\u0142u z sond\u0105 Kelvina (KPFM).<\/li>\n
  • Mikroskopia odpowiedzi piezoelektrycznej (PRFM).<\/li>\n
  • Mikroskopia torsyjnej.<\/li>\n
  • DataCubeTM<\/sup> <\/strong>\u2013 modu\u0142 i oprogramowanie umo\u017cliwiaj\u0105ce zbieranie skorelowanych zbior\u00f3w danych nanoelektrycznych i nanomechanicznych, r\u00f3wnocze\u015bnie z rejestrowanym obrazem topografii pr\u00f3bki. DataCube \u0142\u0105czy ze sob\u0105 tryb obrazowania ScanAsyst, tryb ilo\u015bciowego okre\u015blenia w\u0142a\u015bciwo\u015bci nanomechanicznych PeakForce QNM oraz dowolna metod\u0119 pomiarow\u0105 z zestawu tryb\u00f3w elektrycznych dost\u0119pnych w systemie Dimension Icon (lokalne przewodnictwo, rozk\u0142adu \u0142adunku, st\u0119\u017cenie i rodzaj no\u015bnika \u0142adunku oraz w\u0142a\u015bciwo\u015bci piezoelektryczne).<\/li>\n<\/ul>\n

    Maksymalny rozmiar pr\u00f3bki:<\/p>\n

    \u00d8\u00a0\u2264 200 mm, grubo\u015b\u0107 10 mm<\/p>", "protected": false }, "excerpt": { "rendered": "

    Pracownicy odpowiedzialni: mgr Rafa\u0142 Bo\u017cek dr Jan Paw\u0142owski Mikroskop Bruker Dimension Icon jest to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop AFM z kontrolerem najnowszej generacji Nanoscope VI. Dost\u0119pne tryby pracy: topografia w trybie kontaktowym i trybie przerywanego kontaktu (\u201etapping mode\u201d) topografiaw trybie przerywanego kontaktu z kontrol\u0105 si\u0142y oddzia\u0142ywania sonda-pr\u00f3bka (PeakForce TappingTM) z systemem wspomagaj\u0105cym i pozwalaj\u0105cym na automatyczn\u0105 […]<\/p>", "protected": false }, "author": 4, "featured_media": 0, "parent": 229, "menu_order": 0, "comment_status": "closed", "ping_status": "closed", "template": "", "meta": { "footnotes": "" }, "class_list": [ "post-241", "page", "type-page", "status-publish", "hentry" ], "_links": { "self": [ { "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/241", "targetHints": { "allow": [ "GET" ] } } ], "collection": [ { "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages" } ], "about": [ { "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/types\/page" } ], "author": [ { "embeddable": true, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/users\/4" } ], "replies": [ { "embeddable": true, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fcomments&post=241" } ], "version-history": [ { "count": 7, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/241\/revisions" } ], "predecessor-version": [ { "id": 328, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/241\/revisions\/328" } ], "up": [ { "embeddable": true, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/229" } ], "wp:attachment": [ { "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fmedia&parent=241" } ], "curies": [ { "name": "wp", "href": "https:\/\/api.w.org\/{rel}", "templated": true } ] } }