{ "id": 574, "date": "2024-06-11T21:31:04", "date_gmt": "2024-06-11T19:31:04", "guid": { "rendered": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/?page_id=574" }, "modified": "2024-06-12T10:49:30", "modified_gmt": "2024-06-12T08:49:30", "slug": "laboratorium-agilent", "status": "publish", "type": "page", "link": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/?page_id=574", "title": { "rendered": "Laboratorium Agilent" }, "content": { "rendered": "

Agilent B1500A Semiconductor Device Parameter Analyzer<\/strong><\/h4>\n\n\n

Agilent B1500A Semiconductor Device Parameter Analyzer <\/strong>\u2013 jest to uk\u0142ad do wszechstronnej charakteryzacji elektrycznej materia\u0142\u00f3w p\u00f3\u0142przewodnikowych i dielektrycznych. Uk\u0142ad wyposa\u017cony jest w cztery sondy pomiarowe umieszczone na stanowisku z mikromanipulatorami oraz mikroskopem do precyzyjnego ustawienia pozycji na badanej pr\u00f3bce. Ka\u017cda z sond mo\u017ce by\u0107 indywidualnie zaprogramowana do wykonywania okre\u015blonej procedury pomiarowej, takiej jak pomiar krzywych I-V czy pomiaru metod\u0105 van der Pauwa, a tak\u017ce na zautomatyzowanie ca\u0142ej serii pomiarowej. Dodatkowo, poprzez po\u0142\u0105czenie do uk\u0142adu z uk\u0142adem do pomiaru efektu Halla, mo\u017cliwe jest wyznaczenie podstawowych parametr\u00f3w transportowych, takich jak ruchliwo\u015b\u0107, koncentracja no\u015bnik\u00f3w oraz rezystancja w\u0142a\u015bciwa badanego materia\u0142u. Uk\u0142ad dedykowany jest tak\u017ce do bardzo s\u0142abo przewodz\u0105cych pr\u00f3bek, jest w stanie wyznaczy\u0107 op\u00f3r materia\u0142u si\u0119gaj\u0105cy nawet gigaom\u00f3w.<\/p>\n\n\n

\"\"
Rysunek 1. Uk\u0142ad do charakteryzacji p\u00f3\u0142przewodnik\u00f3w Agilent B1500A.<\/figcaption><\/figure>\n\n\n\n
\"\"
Rysunek 2. Zbli\u017cenie na mikromanipulatory wraz z sondami<\/figcaption><\/figure>\n\n\n\n

Ecopia HMS-3000<\/strong><\/h4>\n\n\n

Ecopia HMS-3000<\/strong> \u2013 uk\u0142ad do pomiaru efektu Halla (Rysunek 3). Uk\u0142ad pomiarowy do charakteryzacji p\u00f3\u0142przewodnik\u00f3w poprzez pomiar efektu Halla metod\u0105 van der Pauwa. Jest przeznaczony do szybkiej charakteryzacji pr\u00f3bek, pozwalaj\u0105cej na wyznaczenie podstawowych parametr\u00f3w elektrycznych danego materia\u0142u, takich jak ruchliwo\u015b\u0107, koncentracja, rezystancja w\u0142a\u015bciwa i powierzchniowa. Wraz z dedykowanym uchwytem do pomiaru, u\u017cytkownik jest w stanie zainstalowa\u0107 pr\u00f3bk\u0119 bez konieczno\u015bci lutowania kontakt\u00f3w (Rysunek 4).<\/p>\n\n\n

\"\"
Rysunek 3. Uk\u0142ad do pomiaru efektu Halla, Ecopia HMS-3000.<\/figcaption><\/figure>\n\n\n\n
\"\"
Rysunek 4. Uchwyt pomiarowy umo\u017cliwiaj\u0105cy pomiar pr\u00f3bek o wymiarach do 2 cm \u00d7 2 cm.<\/figcaption><\/figure>", "protected": false }, "excerpt": { "rendered": "

Agilent B1500A Semiconductor Device Parameter Analyzer Agilent B1500A Semiconductor Device Parameter Analyzer \u2013 jest to uk\u0142ad do wszechstronnej charakteryzacji elektrycznej materia\u0142\u00f3w p\u00f3\u0142przewodnikowych i dielektrycznych. Uk\u0142ad wyposa\u017cony jest w cztery sondy pomiarowe umieszczone na stanowisku z mikromanipulatorami oraz mikroskopem do precyzyjnego ustawienia pozycji na badanej pr\u00f3bce. Ka\u017cda z sond mo\u017ce by\u0107 indywidualnie zaprogramowana do wykonywania okre\u015blonej […]<\/p>", "protected": false }, "author": 4, "featured_media": 0, "parent": 8, "menu_order": 0, "comment_status": "closed", "ping_status": "closed", "template": "", "meta": { "footnotes": "" }, "class_list": [ "post-574", "page", "type-page", "status-publish", "hentry" ], "_links": { "self": [ { "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/574", "targetHints": { "allow": [ "GET" ] } } ], "collection": [ { "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages" } ], "about": [ { "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/types\/page" } ], "author": [ { "embeddable": true, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/users\/4" } ], "replies": [ { "embeddable": true, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fcomments&post=574" } ], "version-history": [ { "count": 5, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/574\/revisions" } ], "predecessor-version": [ { "id": 583, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/574\/revisions\/583" } ], "up": [ { "embeddable": true, "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/8" } ], "wp:attachment": [ { "href": "https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/en\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fmedia&parent=574" } ], "curies": [ { "name": "wp", "href": "https:\/\/api.w.org\/{rel}", "templated": true } ] } }