{"id":241,"date":"2024-02-27T12:40:00","date_gmt":"2024-02-27T11:40:00","guid":{"rendered":"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/?page_id=241"},"modified":"2024-02-28T12:43:43","modified_gmt":"2024-02-28T11:43:43","slug":"bruker-dimension-icon","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/?page_id=241","title":{"rendered":"Bruker Dimension Icon"},"content":{"rendered":"<p>Pracownicy odpowiedzialni:<\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/?page_id=5#Rafal-Bozek\">mgr Rafa\u0142 Bo\u017cek<\/a><\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/?page_id=5#Jan_Pawlowski\">dr Jan Paw\u0142owski<\/a><\/p>\n<p>Mikroskop Bruker Dimension Icon jest to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop AFM z kontrolerem najnowszej generacji Nanoscope VI.<\/p>\n\n\n<div class=\"wp-block-columns is-layout-flex wp-container-core-columns-is-layout-28f84493 wp-block-columns-is-layout-flex\">\n<div class=\"wp-block-column is-layout-flow wp-block-column-is-layout-flow\">\n<figure class=\"wp-block-image size-large\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" width=\"1024\" height=\"1024\" src=\"http:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2024\/02\/icon1-1024x1024.jpg\" alt=\"\" class=\"wp-image-244\" srcset=\"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2024\/02\/icon1-1024x1024.jpg 1024w, https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2024\/02\/icon1-300x300.jpg 300w, https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2024\/02\/icon1-150x150.jpg 150w, https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2024\/02\/icon1-768x768.jpg 768w, https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2024\/02\/icon1-1536x1536.jpg 1536w, https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2024\/02\/icon1-2048x2048.jpg 2048w\" sizes=\"auto, (max-width: 1024px) 100vw, 1024px\" \/><\/figure>\n<\/div>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-column is-layout-flow wp-block-column-is-layout-flow\"><\/div>\n<\/div>\n\n\n<p>Dost\u0119pne tryby pracy:<\/p>\n<ul>\n<li>topografia w trybie kontaktowym i trybie przerywanego kontaktu (\u201etapping mode\u201d)<\/li>\n<li>topografiaw trybie przerywanego kontaktu z kontrol\u0105 si\u0142y oddzia\u0142ywania sonda-pr\u00f3bka (<strong>PeakForce Tapping<sup>TM<\/sup><\/strong>) z systemem wspomagaj\u0105cym i pozwalaj\u0105cym na automatyczn\u0105 optymalizacj\u0119 parametr\u00f3w skanowania w czasie rzeczywistym <strong>ScanAsyst<sup>TM<\/sup><\/strong>.<\/li>\n<li><strong>PeakForce Quantitative NanoMechanics (PeakForce QNM<sup>TM<\/sup>)<\/strong> &#8211; tryb przerywanego kontaktu z kontrol\u0105 si\u0142y oddzia\u0142ywania sonda-pr\u00f3bka pozwalaj\u0105cy na ilo\u015bciowe okre\u015blenie w\u0142a\u015bciwo\u015bci nanomechanicznych badanych materia\u0142\u00f3w. W tym trybie pracy, r\u00f3wnolegle obok obrazu topografii, mo\u017cliwe jest uzyskanie map w\u0142a\u015bciwo\u015bci nanomechanicznych pr\u00f3bki, takich jak: si\u0142a adhezji, g\u0142\u0119boko\u015b\u0107 indentacji, deformacja, modu\u0142 elastyczno\u015bci, energia dyssypacji.<\/li>\n<li>Mikroskopia si\u0142 magnetycznych (MFM).<\/li>\n<li>Mikroskopia si\u0142 elektrycznych (EFM).<\/li>\n<li><strong>PeakForce TUNA<\/strong><strong><sup>TM<\/sup><\/strong> &#8211; tryb przerywanego kontaktu pozwalaj\u0105cy na tworzenie lokalnych map przewodnictwa pr\u00f3bki w zakresie od 100 fA do 1 \u00b5A.<\/li>\n<li>Mikroskopia potencja\u0142u z sond\u0105 Kelvina (KPFM).<\/li>\n<li>Mikroskopia odpowiedzi piezoelektrycznej (PRFM).<\/li>\n<li>Mikroskopia torsyjnej.<\/li>\n<li><strong>DataCube<sup>TM<\/sup> <\/strong>\u2013 modu\u0142 i oprogramowanie umo\u017cliwiaj\u0105ce zbieranie skorelowanych zbior\u00f3w danych nanoelektrycznych i nanomechanicznych, r\u00f3wnocze\u015bnie z rejestrowanym obrazem topografii pr\u00f3bki. DataCube \u0142\u0105czy ze sob\u0105 tryb obrazowania ScanAsyst, tryb ilo\u015bciowego okre\u015blenia w\u0142a\u015bciwo\u015bci nanomechanicznych PeakForce QNM oraz dowolna metod\u0119 pomiarow\u0105 z zestawu tryb\u00f3w elektrycznych dost\u0119pnych w systemie Dimension Icon (lokalne przewodnictwo, rozk\u0142adu \u0142adunku, st\u0119\u017cenie i rodzaj no\u015bnika \u0142adunku oraz w\u0142a\u015bciwo\u015bci piezoelektryczne).<\/li>\n<\/ul>\n<p>Maksymalny rozmiar pr\u00f3bki:<\/p>\n<p>\u00d8\u00a0\u2264 200 mm, grubo\u015b\u0107 10 mm<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Pracownicy odpowiedzialni: mgr Rafa\u0142 Bo\u017cek dr Jan Paw\u0142owski Mikroskop Bruker Dimension Icon jest to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop AFM z kontrolerem najnowszej generacji Nanoscope VI. Dost\u0119pne tryby pracy: topografia w trybie kontaktowym i trybie przerywanego kontaktu (\u201etapping mode\u201d) topografiaw trybie przerywanego kontaktu z kontrol\u0105 si\u0142y oddzia\u0142ywania sonda-pr\u00f3bka (PeakForce TappingTM) z systemem wspomagaj\u0105cym i pozwalaj\u0105cym na automatyczn\u0105 [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":4,"featured_media":0,"parent":229,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"footnotes":""},"class_list":["post-241","page","type-page","status-publish","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/241","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/users\/4"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fcomments&post=241"}],"version-history":[{"count":7,"href":"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/241\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":328,"href":"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/241\/revisions\/328"}],"up":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/229"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanotech.fuw.edu.pl\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fmedia&parent=241"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}