Laboratorium Mikroskopii Sił Atomowych (AFM)

Pracownicy laboratorium AFM:

mgr Rafał Bożek

dr Jan Pawłowski

Mikroskopia sił atomowych (Atomic Force Microscopy) jest techniką badania powierzchni ciał stałych z rozdzielczością sięgającą 0.1 nm w płaszczyźnie próbki (xy) i lepszą niż 0.01nm w kierunku osi z.

Idea pomiarów jest oparta na oddziaływaniach międzyatomowych i międzycząsteczkowych pomiędzy próbką a sondą pomiarową – dźwignią z ostrzem o promieniu krzywizny ~10 nm. Osiągane parametry zależą od konstrukcji mikroskopu, a w szczególności środowiska, w którym są wykonywane pomiary – powietrze (inne gazy), ciecz lub ultrawysoka próżnia. Podstawą są pomiary topografii, czyli kształtu powierzchni. Zastosowanie zmodyfikowanych sond oraz zaawansowanych metod analizy wyników umożliwia badanie wielu innych właściwości próbek, w tym elektrycznych, magnetycznych, piezoelektrycznych i mechanicznych.

W Laboratoriach Nanotechnologii i Struktur Półprzewodnikowych dysponujemy obecnie trzema mikroskopami AFM:

1. Digital Instruments, model: MultiMode AFM-2 z kontrolerem NanoScope IIIA i przystawką Extender Electronics Module.
2. Scienta Omicron, model: VT XA zainstalowany w układzie próżniowym z pojedynczą komorą.
3. Bruker, model: Dimension Icon z kontrolerem NanoScope VI.