Bruker Dimension Icon

Pracownicy odpowiedzialni:

mgr Rafał Bożek

dr Jan Pawłowski

Mikroskop Bruker Dimension Icon jest to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop AFM z kontrolerem najnowszej generacji Nanoscope VI.

Dostępne tryby pracy:

• topografia w trybie kontaktowym i trybie przerywanego kontaktu („tapping mode”)
• topografiaw trybie przerywanego kontaktu z kontrolą siły oddziaływania sonda-próbka (PeakForce Tapping^TM) z systemem wspomagającym i pozwalającym na automatyczną optymalizację parametrów skanowania w czasie rzeczywistym ScanAsyst^TM.
• PeakForce Quantitative NanoMechanics (PeakForce QNM^TM) – tryb przerywanego kontaktu z kontrolą siły oddziaływania sonda-próbka pozwalający na ilościowe określenie właściwości nanomechanicznych badanych materiałów. W tym trybie pracy, równolegle obok obrazu topografii, możliwe jest uzyskanie map właściwości nanomechanicznych próbki, takich jak: siła adhezji, głębokość indentacji, deformacja, moduł elastyczności, energia dyssypacji.
• Mikroskopia sił magnetycznych (MFM).
• Mikroskopia sił elektrycznych (EFM).
• PeakForce TUNA^TM – tryb przerywanego kontaktu pozwalający na tworzenie lokalnych map przewodnictwa próbki w zakresie od 100 fA do 1 µA.
• Mikroskopia potencjału z sondą Kelvina (KPFM).
• Mikroskopia odpowiedzi piezoelektrycznej (PRFM).
• Mikroskopia torsyjnej.
• DataCube^TM – moduł i oprogramowanie umożliwiające zbieranie skorelowanych zbiorów danych nanoelektrycznych i nanomechanicznych, równocześnie z rejestrowanym obrazem topografii próbki. DataCube łączy ze sobą tryb obrazowania ScanAsyst, tryb ilościowego określenia właściwości nanomechanicznych PeakForce QNM oraz dowolna metodę pomiarową z zestawu trybów elektrycznych dostępnych w systemie Dimension Icon (lokalne przewodnictwo, rozkładu ładunku, stężenie i rodzaj nośnika ładunku oraz właściwości piezoelektryczne).

Maksymalny rozmiar próbki:

Ø ≤ 200 mm, grubość 10 mm