Scienta Omicron VT XA

Pracownicy odpowiedzialni:

mgr Rafał Bożek

dr Jan Pawłowski

Mikroskop Scienta Omicron umożliwia wysokorozdzielcze obrazowanie powierzchni badanych materiałów w atmosferze ultra-wysokiej próżni (osiągalne ciśnienie ≥2·10^-10 mbar – układ próżniowy z pojedynczą komorą).

Dostępne tryby pracy:

• STM/STS mikroskopia tunelowa – topografia i spektroskopia,
• AFM Contact (topografia, siły tarcia LFM, przewodnictwo),
• AFM Noncontact,
• QPlus AFM/STM,
• EFM – mikroskopia sił elektrycznych,
• MFM – mikroskopia sił magnetycznych,
• KPFM AM/FM (single pass) mikroskopia z sondą Kelvina.

Mikroskop jest zintegrowany z kriostatem przepływowym umożliwiającym chłodzenie stolika próbki (sonda nie jest chłodzona). Minimalna temperatura stolika ~50K (LHe – w laboratorium nie ma odzysku helowego) i ~130K (LN₂). Maksymalna temperatura stolika 423K (150°C).

Maksymalny rozmiar próbek (11×11×8 mm).

Zakres pracy skanera piezoelektrycznego wynosi x, y: 10 µm oraz z: 1 µm (±0.5 µm)

Uchwyty próbek