Pracownicy odpowiedzialni:
Mikroskop MultiMode umożliwia obrazowanie próbek w zakresie w powietrzu.
Dostępne tryby pracy:
- topografia w trybie kontaktowym i trybie przerywanego kontaktu („tapping mode”),
- mikroskopia sił elektrycznych (EFM),
- mikroskopii sił magnetycznych (MFM),
- mapowania potencjału elektrycznego sondą Kelvina,
- mikroskopia sił bocznych (LFM),
- skaningowej mikroskopii tunelowej (STM).
Maksymalny rozmiar próbek:
Ø ≤15 mm, grubość ~5mm.
Mikroskop ma wymienne skanery piezoelektryczne:
- Skaner J (tzw. długi skaner) zakres pracy x, y: 125 µm i z: 5 µm.
- Skaner E (tzw. krótki skaner) zakres pracy x, y: 10 µm i z: 2,5 µm.
- Skaner A (tzw. krótki skaner) zakres pracy x, y: 0,4 µm i z: 0,4 µm.