Pracownik odpowiedzialny:
Dyfraktometr rentgenowski PANalytical X’Pert PRO
Dyfraktometr PANalytical X’Pert PRO jest urządzeniem wykorzystywany w pomiarach rentgenowskich umożliwiających określanie struktury krystalicznej badanych materiałów. Źródłem promieniowania jest lampa rentgenowską o anodzie miedzianej dająca promieniowanie rentgenowskie o długości fali 1,5406 Å (linia Kα1). Urządzenie jest wyposażone w dwa niezależne tory pomiarowe:
- Układ wysokorozdzielczy wyposażony w czteroodbiciowy monochromator Bartelsa, trzy osiowy goniometr oraz analizator germanowy. Pozwala na pomiary dyfrakcji rentgenowskiej próbek monokrystalicznych oraz warstw epitaksjalnych.
- Układ do badania cienkich warstw wyposażony w zwierciadło paraboliczne oraz szczeliny Sollera. Pozwala na nisko kątowe pomiary reflektometryczne jak również na wysoko kątowe pomiary dyfrakcyjne. Układ jest głównie wykorzystywany do badania grubości i jakości strukturalnej atomowo cienkich materiałów warstwowych takich jak grafen, azotek boru itp.